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顆粒測試基本知識|平均粒徑適應性的比較

  • 關鍵詞:激光粒度儀
  • 資料類型:jpg上傳時間:2020年08月25日 11:21
  • 查看次數:218次需要積分:0
  • 上傳人:來亨科技(北京)有限公司 進入展臺

顆粒測試基本知識-平均粒徑適應性的比較

 

平均徑是表征粉體平均粗細程度的值,有很多計算方法,但究竟哪種計算方法所得到的平均徑更符合實際呢?

 

舉一個簡單的例子,兩個直徑分別為 1 和 10 的球體,如果你僅對數量感興趣,則就簡單計算數量平均直徑,得到的結果是D[1,0]=(1+10)/2=5.5。

 

但是如果你感興趣的是它的體積,而體積是直徑的三次函數,這樣,直徑為 1的球體體積為 1,直徑為 10 的球體體積為 1000。也就是說,大球體占總體積的 99.9%,這時用 D[4,3]能更好地反映顆粒的體積平均徑:

 

D[4,3] 能比較充分地表示系統的體積,這對工業生產非常重要。

 

但是對于大規模集成電路的潔凈房間來說,顆粒的數量就是最重要 的了,若有一個顆粒落在硅片上,就將會產生一個疵點,產品就會報廢。

 

這種場合需要采用能直接測量顆粒數量的顆粒計數器法進行 粒度測量,平均值都用 D[1,0] 表示,這種場合顆粒的大小反而顯得不重要了。究竟哪一種平均值的算法符合實際呢,要根據你的實際需要而定。

 

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